연구자들은 각 당사자당 두 개의 이진 측정만 사용하여 부울-위상 게이트를 인증하는 선형-스케일링 방법을 개발했으며, 위상 정보를 부울 미분을 통해 고전적 신호로 변환하여 얽힘과 복잡한 양자 측정 설계를 피했다.

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