研究人員利用6000多個約瑟夫森結追踪了超導量子比特中缺陷的微觀結構起源，揭示了電極製造、晶粒結構與兩能級系統密度之間的強關聯，實現了缺陷的67%降低。

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研究人员利用6000多个约瑟夫森结追踪了超导量子比特中缺陷的微观结构起源，揭示了电极制造、晶粒结构和双能级系统密度之间的强相关性，实现了缺陷的67%降低。

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芝加哥大學團隊開發了計算框架，準確預測自旋缺陷通過內轉換的能量損失，推進量子感測應用，並揭示了碳化矽雙空位中被低估的損失途徑。

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芝加哥大学团队开发计算框架，通过内转换准确预测自旋缺陷中的能量损失，推进量子传感应用，并揭示碳化硅双空位中被低估的损失路径。

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