新的 CBDD 和 CGDD 序列實現脈衝重複率 <2/C 和 1/C，相比 CHaDD 的 >1/4，以降低脈衝密度來換取電路深度的減少。在 127 量子比特 IBM 處理器上的實驗驗證表明，當脈衝誤差佔主導時，狀態保持性能得到改善。

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