新的CBDD和CGDD序列实现了<2/C和1/C的脉冲重复率，相比CHaDD的>1/4，通过权衡电路深度来降低脉冲密度。在127量子比特IBM处理器上的实验验证表明，当脉冲误差占主导时，状态保留性能得到改善。

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