تم تطوير مقارنات الأنماط على السيليكون على العازل باستخدام الانحناءات الأويلرية الجزئية بكفاءة تحويل TE0-إلى-TE1 بنسبة 94% وعرض نطاق 90 نانومتر عند 1550 نانومتر، مما يتيح معالجة المعلومات الكمية الضوئية عالية الأبعاد.

تم تطوير مقارنات الأنماط على السيليكون على العازل باستخدام الانحناءات الأويلرية الجزئية بكفاءة تحويل TE0-إلى-TE1 بنسبة 94% وعرض نطاق 90 نانومتر عند 1550 نانومتر، مما يتيح معالجة المعلومات الكمية الضوئية عالية الأبعاد.